半導体量子ドットにおけるコヒーレンスの超高感度光検出 : 光ヘテロダイン検出法を利用したフォトンエコー(最近の研究から)
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概要
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量子ビットとしての応用が期待される半導体量子ドット中の励起子のコヒーレンス時間と,これを高感度に測定できる光ヘテロダイン検出を用いた高感度フォトンエコー法について紹介する.実際に,2種類の単層の自己形成量子ドットに対して用いた結果についても報告する.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2007-08-05
著者
-
Masumoto Yasuaki
Univ. Tsukuba Tsukuba Jpn
-
池沢 道男
筑波大物理:jstさきがけ
-
池沢 道男
筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻
-
舛本 泰章
筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻
-
Ikezawa Michio
Institute Of Physics University Of Tsukuba
-
舛本 泰章
筑波大学物理学系
-
Ikezawa M
Institute Of Physics University Of Tsukuba
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