歯肉剥離掻爬手術後の新付着に関する研究(第7報) : 汚染セメント質に関する電子顕微鏡的観察

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滑沢化された根面への新付着は根尖側部のごく一部に限られることから,citric acidの塗布をはじめとした種々の根面処理が試みられている。さらに最近,エンドトキシンはさほど深部に浸透するのでなく,主にセメント質表層に吸着,局在するものであるという考えから,汚染セメント質そのものの取り扱い方についても再検討の機運がみられる。今回そういった理由から,歯周疾患歯セメント質を再調査する目的で,歯周疾患歯5本さらにコントロールとしての健全歯(便宜抜去歯)2本,計7本を被験歯とし,割断セメント質面をセメントーエナメル境直下より,ポケットを経て上皮付着部までSEMで観察,その後同試料でTEM試料を作成,SEM観察部と対比しながら詳細に観察した。その結果,口腔内露出部セメント質は過石灰化した表層部はもとより深部セメント質まで変化が起こっていた。それに比べポケット対応部のセメント質の変化は表層のごく一部に限られ,深部セメント質はほとんど変化はみられなかった。このことはセメント質の存在が新付着に好影響を与えると考えられることから,歯周疾患歯に対しても深部セメント質の保存を一考する価値があるように思われた。
特定非営利活動法人日本歯周病学会の論文
1985-12-28

歯肉剥離掻爬手術後の新付着に関する研究(第7報) : 汚染セメント質に関する電子顕微鏡的観察

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