ラマン散乱分光法による単層カーボンナノチューブ温度測定(オーガナイズドセッション10 ナノ・マイクロスケール伝熱)
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概要
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Raman scatterings from various SWNT samples were measured at a wide range of temperatures (from 4 K to about 1000 K). With increase in sample temperature, both the Raman shift and the intensity of G-band of SWNTs decreased, while the peak width increased. Through the comprehensive calibration, the temperature of SWNTs can be measured by using the temperature dependence of Raman shift and the intensity in the G-band. The temperature distribution of SWNTs induced by the Raman excitation laser was measured with this temperature measurement technique of SWNTs.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 2004-11-10
著者
-
丸山 茂夫
東京大学大学院工学系研究科
-
村上 陽一
東大院工
-
丸山 茂夫
東大院工
-
宮内 雄平
京大化研
-
千足 昇平
東大工
-
宮内 雄平
東大院学
-
千足 昇平
東大院学
-
村上 陽一
東大院学
-
丸山 茂夫
東大院・工
-
千足 昇平
東京大学大学院工学系研究科機械工学専攻
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