Magnetoresistance and the Electronic Structure of Si on Sapphire

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人応用物理学会の論文

著者

• : A-7:

  Siemens Ag Research Laboratories

• : A-7:

  Toshiba Research and Development Center, Tokyo Shibawa Electric Co., Ltd.

関連論文

• Effects of Crystalline Defects on Electrical Properties in Silicon Films on Sapphire
• Thin Film Evaluation Techniques for the ESFI SOS Technology
• Magnetoresistance and the Electronic Structure of Si on Sapphire
• Threshold Voltage Engineering with ESFI SOS MOST's

スポンサーリンク