Cross Check of Electron Density Distribution by Moire-Schlieren Technique and Mach-Zehnder Interferometry
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概要
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Simultaneous measurements of the electron density in a plasma focus by a Moire-Schlieren technique and Mach-Zehnder interferometry were carried out to investigate the unavoidable error in the interferometry generated by refraction of the probe beam by the density gradient. The refraction angle was measured precisely by the Moire-Schlieren technique, and the spatial distribution of the electron density calculated from the refraction angle agreed well with that obtained by Mach-Zehnder interferometry. The error produced by the refraction is found to be negligible if an N_2-laseris employed as the light source for the plasma focus.
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1985-11-20
著者
-
平野 克己
High Energy Accelerator Res.organization Ibaraki Jpn
-
SHIMODA Katsuji
Department of Electronic Engineering Gunma University
-
Hirano Katsumi
Department Of Electronic Engineering Gunma University
-
Shimoda K
Department Of Electronic Engineering Gunma University
-
Yamamoto Toshikazu
Department Of Electronic Engineering Gunma University
-
MATSUMOTO Chiaki
Department of Electronic Engineering, Gunma University
-
Matsumoto Chiaki
Department Of Electronic Engineering Gunma University
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