単層Poly Si電極で形成したFT-CCDイメージセンサの構造と特性
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概要
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We experimentally fabricated a 1/4-inch 360k pixel FT-CCD image sensor for ITU601 format with a single layer poly-Si electrode structure. We have adopted 0.45um as a gap width to keep the balance of the charge handling capability and optical sensitivity. We optimized the membrane structure to improve optical sensitivity. We adopted the sandwich structure that poly-Si gate is put between two silicon-nitride layers which have a high refractive index, to suppress the reflection on the poly-Si surface. 30% of sensitivity improvement was achieved by this structure. FT-CCD image sensor with this new structure is very simple and has high performance.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1999-07-30
著者
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岡田 吉弘
三洋電機株式会社 セミコンダクタカンパニーccdビジネスユニット/lsiビジネスユニット
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岡田 吉弘
三洋電機(株) 半導体事業本部 LSI事業部
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大鶴 雄三
三洋電機株式会社 セミコンダクタカンパニーCCDビジネスユニット/LSIビジネスユニット
-
伊澤 慎一郎
三洋電機株式会社 セミコンダクタカンパニーCCDビジネスユニット
-
田井野 伸泰
三洋電機株式会社 セミコンダクターカンパニーMOS-LSI事業部
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浜田 稔
三洋電機株式会社 セミコンダクターカンパニーMOS-LSI事業部
-
浜田 実
三洋電機株式会社 セミコンダクターカンパニーmos-lsi事業部
-
伊澤 慎一郎
三洋電機株式会社セミコンダクターカンパニーシステムlsi事業部ccd開発部
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岡田 吉弘
三洋電機株式会社 セミコンダクタカンパニーCCDビジネスユニット
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