ストークスパラメータ法を用いたねじれ角分布と方位角アンカリング力測定
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概要
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TNセルやSTNセルにおける液晶分子のねじれ角を精度良く測定する方法は報告されているものの、配向膜の容易軸の組み合わせ角度を高精度で決定することが困難であり、配向規制力を計算する際の誤差の原因の一つとなっている。この問題を解決するために、我々は軸対象に液晶を配向させた基板と一方向配向基板を組み合わせることにより、容易軸の組み合わせ角度が0°から90°の範囲で連続的に変化するセルを作製した。さらに、この液晶セルにより液晶層の厚みと液晶分子のねじれ角度の2D分布をストークスパラメータ法を用いて測定し、方位角方向の配向規制力について検討したので、それらの結果を報告する。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1999-03-19
著者
-
山口 留美子
秋田大学電気電子工学科
-
佐藤 進
秋田大学 電気電子工学科
-
山口 留美子
秋田大学 電気電子工学科
-
渡木 武
秋田大学 工学資源学部 電気電子工学科
-
山口 留美子
秋田大学 工学資源学部
-
山口 留美子
秋田大学 工学資源学部 電気電子工学科
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