PDP用MgO膜のγ係数計測法開発

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概要

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AC型プラズマディスプレイパネルで保護膜として一般的に用いられているMgOにおいて、その二次電子放出係数はパネルの高効率化、低電圧化のための重要なパラメータである。本報告では、火花放電によるイオンを用いてγ係数の相対的測定を放電ガス圧下で測定することを可能とする新規計測法を提案するとともに装置の開発を行い、様々なガス種での比較検討も行えるように実験装置構成の最適化を行った。また、測定値とAC型放電の放電開始電圧との相関について明らかにし、装置の信頼性を確認した。さらに、ガス種による測定値の差違および真空中での試料処理方法による差違を明らかにした。
社団法人映像情報メディア学会の論文
1999-01-21

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