相変化光デイスクの共通試験
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概要
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大容量メモリである光ディスクの大きな特長の一つは互換性があることである。これを確保するため、国際規格が作られている。規格の審議、運用・維持活動支援のため標準ディスク、校正ディスク利用提案や共通試験の試みがなされている。ここでは、記録再生特性の共通試験、ほこりの影響の共通試験法、回転しているデイスク上のレーザスポット径測定法、ディスクの回転すべりの指摘と測定法、温度依存性共通試験法の研究状況について述べる。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1995-02-24
著者
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