オンチップ層内レンズ技術によるCCD撮像素子光電変換特性の向上(<論文特集>固体撮像とその関連技術)
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概要
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An on-chip inner-layer lens has been developed to improve the photo-sensitivity and smear of CCD image sensors. The inner-layer lens structure consists of a boron-phospho-silicate-glass (BPSG) layer and a heat melting transparent resin. The refractive indices for the inner-layer lens was higher than the BPSG layer and the planarization layer. Taking the incident angle into account, we have applied a new three dimentional simulation to the inner-layer lens to investigate the optical pass. We fabricate a 1/4-type IT-CCD image sensor with an inner-layer lens. This fabricated results of an image sensor has been explained well by the new three dimentional optical simulation. The increase of photo-sensitivity using the inner-layer lens technology is 16% without deterioration in the CCD characteristics. Furthermore using the inner-layer lens reduces the smear value by 70%.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1996-02-20
著者
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梅田 卓也
松下電子工業(株)LSI開発センター
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佐野 義和
松下電子工業(株)京都研究所
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青木 裕光
松下電子工業(株)半導体社ccd事業部 開発部
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千田 浩之
松下電子工業(株)半導体社CCD事業部開発部
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重田 陽子
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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市川 美千代
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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上坂 渡
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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塚本 朗
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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新添 真人
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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梅田 卓也
松下電子工業株式会社半導体事業本部lsi開発センタ
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千田 浩之
松下電子工業(株)半導体社ccd事業部 開発部
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佐野 義和
松下電子工業株式会社半導体事業本部京都研究所
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