液晶層を評価する新しいセナルモン法

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概要

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• Liquid crystal displays(LCDs)are widely used in many fields for high performance,such as low power consumption,high contrast and high durability. The precise design of electrooptical performance and the controllability of the manufacturing achieve the demand. Measurement of the retardation is one of the important evaluation technologies. It is closely related to the contrast,the viewing angle,the response speed and so on. A newly developed Senarmont method is proposed. This method gives more precise measurement accuracy and is useful for the development of the LCDs performance.

• 八戸工業大学の論文
• 2005-02-28

著者

• 佐藤 裕哉

  八戸工業大学大学院工学研究科電気電子工学専攻博士後期課程・3年

• 佐藤 裕哉

  八戸工業大学大学院工学研究科電気電子工学専攻博士後期課程

• 中村 勇夫

  機械システム工学専攻博士後期課程・3年

• 堀井 信宏

  機械システム工学専攻博士前期課程・2年

• 佐藤 松雄

  機械情報技術学科・教授

• 関 秀廣

  電子知能システム学科・教授

• 関 秀廣

  大学院工学研究科電気電子工学専攻・教授、青森県地域結集型共同研究事業(jst:独立行政法人科学技術振興機構)

• 関 秀廣

  八戸工業大学工学部電気電子工学科

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