高分解能Schottky型CdTe半導体検出器を用いた診断用X線装置の一般撮影条件下のスペクトル測定(第32回秋季学術大会放射線防護管理関連演題発表後抄録, <特集>第61回総会学術大会放射線防護分科会)
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概要
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- 公益社団法人日本放射線技術学会の論文
- 2005-04-08
著者
-
松本 政雄
大阪大学大学院医学系研究科医用物理工学講座
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松本 政雄
大阪大学大学院医学系研究科
-
松本 政雄
阪大院・医
-
前田 浩志
広島国際大学
-
前田 浩志
広島国際大学保健医療学部
-
松本 政雄
大阪大学医学部保健学科医用工学講座
-
前田 浩志
広島国際大学保健医療学部診療放射線学科
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