SC-9-1 LSI故障解析技術の概要
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-08-20
著者
-
味岡 恒夫
Nttエレクトロニクス(株) エレクトロニクス事業本部
-
中島 蕃
NTTエレクトロニクス(株) エレクトロニクス事業本部
-
中島 蕃
Nttエレクトロニクス
-
中島 蕃
Nttエレクトロニクス(株)エレクトロニクス事業本部
関連論文
- SC-9-1 LSI故障解析技術の概要
- 絶縁体上のシリコン層(SOI)に形成したデバイスにおけるタングステンコンタクト不良の構造解析
- 解析用サンプル加工技術
- 解析用サンプル加工技術
- 観測用パッドを用いたEOSプロービングのシミュレーションによる検討
- C-12-3 EOSプローバを用いた高密度LSI内高速小振幅波形の観測
- 短TAT故障解析技術
- SC-12-5 EO-Sampling による高速・低電圧信号測定