B-13-2 光ファイバの実効断面積(Aeff)測定におけるファーフィールドスキャン(FFS)法と可変開口(VA)法の比較
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-08-16
著者
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波平 宜敬
Kdd研究所
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波平 宜敬
応用光電研究室
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タラターン アッチャリヤスントーン
応用光電研究室
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タラターン アッチャリヤスントーン
KDD研究所
-
森田 清孝
(株)KDD研究所
-
森田 清孝
KDD研究所
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