2種類のSPM法による分散シフト光ファイバのKDD研究所とImperial大学間の非線形定数測定
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概要
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2種類の自己位相変調(SPM)法による分散シフト光ファイバのKDD研究所とImperial大学間の波長1550nmにおける非線形定数測定が成功のうちに終了した。その結果、2種類のSPM法の分散シフト光ファイバの非線形定数(n2/Aeff)は良く一致することが確認され、波長1550nmのランダム偏光状態における分散シフト光ファイバの(n2/Aeff)及び非線形屈折率n2は、約4.6x10^<-10>〔1/W〕、2.2x10^<-20>〔m^2/W〕となることが分かった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-01-14
著者
-
波平 宜敬
Kdd研究所
-
波平 宜敬
応用光電研究室
-
佐藤 昌幸
KDD研究所
-
Khera P.S.
Imperial Colledge(UK)
-
Chernikov S.V.
Imperial Colledge(UK)
-
Taylor J.R.
Imperial Colledge(UK)
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