SC-5-1 SiO_2/SiC MOS interface quality : How far from the objective?

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1999-08-16

著者

• Malhan R

  デンソー 基礎研

• マルハン ラジェシュ

  株式会社デンソー基礎研究所

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