スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑える新たなアプローチ(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)

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概要

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• 昨今、スキャン設計したLSIにおけるスキャン動作時における消費電力やノイズの問題がクローズアップされてきている。我々の開発においてもスキャン動作における電源電圧ドロップにより動作不具合が発生した例があり、その現象と原因を分析した。我々は、スキャンテストにおける電源電圧ドロップを抑えるために,新しい技術としてMD-SCAN (Multi-Duty Scan)手法を提案し、その効率的な適用方法を検討した。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2004-01-29

著者

• 吉田 貴輝

  松下電器産業株式会社

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