スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑えるMD-SCAN手法
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概要
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昨今、スキャン設計したLSIにおけるスキャン動作時における消費電力やノイズの問題がクローズアップされてきている。我々の開発においてもスキャン動作における電源電圧ドロップにより動作不具合が発生した例が報告されている。我々は、スキャンテストにおける電源電圧ドロップを抑えるために,新しい技術としてMD-SCAN(Multi Duty-Scan)手法を提案し、テスト回路において効果を実証した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
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