吉田 貴輝 | 松下電器産業株式会社

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概要

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• 同名の論文著者
• 松下電器産業株式会社の論文著者

関連著者

• 吉田 貴輝

  松下電器産業株式会社

• 渡 正文

  松下電器産業株式会社

著作論文

• スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑えるMD-SCAN手法
• スキャンテストにおける電源電圧ドロップの問題と新たな設計手法(テスト手法, LSIのテスト・診断技術論文)
• スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑える新たなアプローチ(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑える新たなアプローチ(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)

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