マスク書込み型PLAの2重化フェールセーフ冗長構成法
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概要
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大面積集積回路(WSI)に用いるマスク書込み型PLAの自動欠陥救済法として,回路構造上の欠陥防止策と組込みテストによる出力クランプを併用した2重化フェールセーフ冗長構成法を提案する.2重化フェールセーフ構成は従来,特殊な非対称誤り型論理素子を用いて次陥による誤りが出力段で単方向となるようにした回路系を2重化し,双方の系の出力が異なる場合には非誤り方向側を優先出力する自動誤り訂正法として知られている.提案法では,2重化するPLAを通常の2値論理素子による2段のNOR型ROMで構成し,前段は「L」方向誤り,後段は「H」方向誤りを許容するフェールセーフ化を,上記併用策により非許容方向誤りを生じる欠陥の防止と無害化を行うことで実現する.これにより,2段のROMからの誤りが最終出力段で同一方向となるようにし,2重化系出力の非誤り方向側優先出力により一括訂正する.本方法では,2重化の切換単位が細分化されるため複数の欠陥に対処でき,非冗長の付加回路規模も少なくできる.1.5μm-CMOS-49k交点PLAをモデルとした評価により,誤り検出符号などを用いる従来型2重化法と比較して,少ない冗長度と出力遅延で高い良品率改善効果が期待できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-25
著者
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