機能チェックと水平・垂直パリティを併用したメモリの冗長構成法
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概要
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WSIにおけるメモリの欠陥救済技術として,ハードウェアの機能チェックにより検出した欠陥情報(フラグ)と,水平・垂直パリティによる誤り検出を組み合わせた冗長方式を提案する.本方式は,パリティ検査により誤りが検出された場合に,欠陥を示すフラグに対応したビットの訂正を行う消去訂正方式を基本とし,これを水平・垂直方向に交互に繰り返すことによって多数ビットの訂正を行う.このため,本方式を直交型消去訂正方式(OEC方式)と名づけた.OEC方式は,同等の欠陥救済能力を有する2重化冗長構成法よりも少ない冗長度で実現でき,また,同様の冗長度で実現できる誤り訂正符号だけを用いた方式に比べ,欠陥救済能力が高く,誤り訂正回路も簡単な構成となる.本論文では,OEC方式をウェーハスケールのROMチップに適用した場合の構成例を示し,その製造歩留り改善効果について評価する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-25
著者
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