SOI MOSFETのしきい電圧モデル
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概要
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薄膜SOIMOSFET内部のポテンシャル分布を漸近法で求め、しきい電圧の解析的モデルを導いた。このモデルを2次元数値シミュレーションと比較して、妥当性を検証した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-10-23
著者
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鳥谷部 達
東洋大学工学大学院工学研究科情報システム専攻
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鳥谷部 達
東洋大学工学部
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Kalachev L.V.
The University of Montana, Dept.Mathematical Sciences
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Kalachev L.v.
The University Of Montana Dept. Mathematical Sciences
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