疑似位相整合デバイスを用いた第二高調波発生による振幅スクイージングの限界
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概要
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疑似位相整合デバイス作製時の精度を考慮したモデルを用い、第二高調波発生における基本波と第二高調波の雑音特性を数値解析した。この結果、振幅スクイージング特性は、1%程度の精度までは作製精度によって定められ、これ以上の精度では、パラメトリック増幅の発現によって制限されることがわかった。作製精度の限界を領域長の0.1%程度とすると、基本波の最大振幅スクイージング量は75%程度、高調波の最大振幅スクイージング量は37%程度であることが予見された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-05-11
著者
-
前田 譲治
東京理科大学理工学部
-
福地 裕
東京理科大学工学部電気工学科
-
福地 裕
東京理科大学
-
小越 澄雄
東京理科大学
-
小越 澄雄
東京理科大学 理工学部
-
前田 譲治
東京理科大学大学院理工学研究科
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