SI型POF減衰定数の短い距離間隔での精密測定法(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)

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概要

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プラスチック光ファイバの減衰特性を精密に測定した。カットバック法によって長さ11mのファイバの減衰定数を1m毎に測定した。ファイバに入射する光パワーの時間的変化を考慮するためにビームスプリッタを用いて参照した。その結果、測定系による誤差は±0.033%(0.0015dB/m)に抑えることができた。さらに、屈折率整合液をファイバ端面に塗布することにより、ファイバ端面のバラツキによる測定誤差を抑えることができた。また、ファイバ内のモード分布が平衡状態になる正確なファイバ長の観測にも成功した。
社団法人電子情報通信学会の論文
2004-01-21

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