POF FFPのスペックル雑音除去方法の検討(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)

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概要

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光ファイバのFFPを測定することによって光がファイバ内においてどのようなモード分布をもって伝搬してきたかを知ることができる。しかし、FFP測定にレーザ光を用いるとスペックル雑音が重畳し、FFPに空間的かつ時間的な変動を与えるという問題点がある。この変動は本来のFFPとは無関係で、レーザ光の干渉性が高いことに起因する。本稿では、POFへ振動を与え、測定器の積分時間内で平均化することでスペックル雑音が除去でき、インコヒーレントな光源を使用したときと同様のFFPを得られることを確認した。
社団法人電子情報通信学会の論文
2004-01-21

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