発光ダイオードの寿命推定について

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概要

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GaAsまたはGaA1As等の化合物系半導体を用いたLEDは、通電により発光出力の低下が起こり、それによる寿命が存在する。寿命推定を行うには、発光出力の劣化と通電時間との関係を明らかにする必要がある。過去より蓄積した通電試験データから、発光出力の低下は通電時間の平方根に比例して劣化する傾向のものが多いという結果が得られた。この内容を加速試験により検証するとともに、通電電流による加速性、温度による加速性を検討した。その結果、発光出力劣化と通電電流によるストレスの関係はアイリングの式が適応できる事が分かった。発光出力劣化と温度の関係は、期待したアレニウスの式には従わなかった。
社団法人電子情報通信学会の論文
1999-11-19

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