LEDの寿命推定方法について

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概要

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GaAsまたはGaAlAs等の化合物系半導体を用いたLEDは、通電により発光出力の低下が起こり、それによる寿命が存在する。一般にLEDの寿命は、発光出力が初期の1/2に低下する時間(ハーフライフ)と定めている。寿命推定を行うには、発光出力の劣化と通電時間との関係を明らかにする必要がある。過去より蓄積した通電試験データから、発光出力の低下は通電時間の平方根に比例して劣化する傾向のものが多いという結果が得られていた。今回、検証のために加速通電試験を実施し、同様の関係を確認した。さらに、順電流の発光出力劣化に対する加速性の関係を見い出し、ハーフライフと順電流はアレニウスの式に合致することを確認した。以下この検討結果について述べる。
社団法人電子情報通信学会の論文
1997-03-06

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