第22回国際故障解析シンポジウム(ISTFA'96)の参加報告

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

• 1996年11月米国カルフォルニア州ロサンゼルス市で開催された第22回国際故障解析シンポジウム(ISTFA'96/The 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis)で発表された論文の概要を紹介し、最近の電子デバイスの故障解析の動向を知る一助としたい。LSIはよ機能の複雑化、高機能化、微細化が著しく進展し、製造工程や使用環境からの影響を受けやすくなり、故障の検出や解析に複雑な手法が必要になっている。本シンポジウムでは新しい解析手法、解析装置の他、事例報告も多く実務担当者に有益なものであった。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1997-03-14

著者

• 岩岡 光男

  高信頼性部品(株)

• 岩岡 光男

  高信頼性部品株式会社

関連論文

• 3-3 宇宙開発事業団におけるプラスチックパッケージ部品の宇宙適用性評価(日本信頼性学会第9回信頼性シンポジウム)
• 第22回国際故障解析シンポジウム(ISTFA'96)の参加報告
• 第22回国際故障解析シンポジウム(ISTFA'96)の参加報告
• 民生部品の転用による宇宙用部品としての信頼性保証技術の実施例

スポンサーリンク