ドミネーションを用いたFTの頂上事象確率算出について(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
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概要
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FTの頂上事象確率は,FTの最小カットセットを求めた後にInclusion-Exclusion法(包除原理による方法)によって機械的に求めることができるが,解析の対象となるシステムが複雑,大規模になるにつれてFTの頂上事象確率の厳密解を求めることは非常に困難になる.よってこれまでの研究では,より効率的で精度の高い頂上事象確率を算出するための多くの手法が提案されてきたが,完全な厳密解を得ることは依然困難である.本研究では,ネットワーク信頼性評価に用いられるドミネーションの概念をFTAに適用し,頂上事象確率を効率良く算出する手法を提案する.すなわち,Inclusion-Exclusion法を適用する際,互いに打ち消し合う項を前もって考慮しておくことによって効率良く算出できることを示す.
- 2003-08-28
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