遠紫外PESA法による有機EL材料の電子状態測定(分子薄膜デバイス・一般)

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概要

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• 遠紫外照射光学系付きオープンカウンターを開発し、遠紫外大気中光電子分光法を行った。この装置は、7.00eVまでのエネルギーを持つフォトンで励起され、試料表面から放出された外殻電子を大気中で1つ1つ検出して計数することができる。この装置の性能を試すために、Hexaphenylcyclotrisiloxane (DPSiO_3)のイオン化ポテンシャルを測定したところ6.49eVであった。また、poly (9,9-dioctylfluorence) (F8)の状態密度を測定した。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2004-10-22

著者

• 安達 千波矢

  九州大学未来化学創造センター

• 山下 大輔

  理研計器株式会社研究部

• 宇田 応之

  早稲田大学奈良美術研究所

• 中島 嘉之

  理研計器株式会社

• 安達 千波矢

  千歳科学技術大学光科学部物質光科学科

• 中島 嘉之

  理研計器(株)研究部

• 中島 嘉之

  理研計器株式会社研究部

• 小山田 崇人

  千歳科学技術大学院・光科学研究科・光科学専攻

• 遠藤 ネL隆

  千歳科学技術大学光科学部

• 小山田 崇人

  千歳科学技術大学大学院光科学研究科

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