山下 大輔 | 理研計器株式会社研究部

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概要

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• 同名の論文著者
• 理研計器株式会社研究部の論文著者

関連著者

• 山下 大輔

  理研計器株式会社研究部

• 宇田 応之

  早稲田大学奈良美術研究所

• 石崎 温史

  理研計器株式会社研究部

• 安達 千波矢

  九州大学未来化学創造センター

• 中島 嘉之

  理研計器株式会社

• 安達 千波矢

  千歳科学技術大学光科学部物質光科学科

• 中島 嘉之

  理研計器(株)研究部

• 中島 嘉之

  理研計器株式会社研究部

• 小山田 崇人

  千歳科学技術大学院・光科学研究科・光科学専攻

• 遠藤 ネL隆

  千歳科学技術大学光科学部

• 小山田 崇人

  千歳科学技術大学大学院光科学研究科

• 宇田 応之

  早稲田大学理工学部材料工学科

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著作論文

• ポータブルX線回折・蛍光X線分析装置の開発と考古学への応用
• ポータブル型複合X線分析装置による遺跡・文化財の分析--これで歴史はかわるか?(10)"やきもの"X線分析事始
• ポータブル型複合X線分析装置による遺跡・文化財の分析--これで歴史はかわるか?(9)古代エジプトのミイラマスクと木棺
• ポータブル型複合X線分析装置による遺跡・文化財の分析--これで歴史はかわるか?(5)白鳳の金銅仏(その1)鶴林寺聖観音像
• 遠紫外PESA法による有機EL材料の電子状態測定(分子薄膜デバイス・一般)

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