コーナー点列の類似比較によるプリント基板検査方式

スポンサーリンク

概要

論文の詳細を見る
本研究では、様々な形状の回路パターンを高精度に検査するために、細線化と距離変換を用いたデザイン・ルール・チェック法とコーナー比較法の2方式を併用する検査方式を提案する。本報告では、コーナー比較法について詳細に説明する。まず、2値画像の輪郭を8方向に近似し、その近似された輪郭画像からコーナー点を検出する方法について述べる。さらに、マクロ的にパターンを検査するため、コーナー点を連結させたコーナー点列を類似比較する手法と、欠陥形状を判定する手法について説明する。最後に、実際のプリント基板を用いたシミュレーション実験について報告し、本検査方式の有効性を示す。
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-01-21

著者

関連論文

スポンサーリンク