電子機器冷却における流れ解析 : 第1報 流れの可視化実験
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概要
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近年の電子機器の小型化・高密度化・高速化により機器発熱密度は年々増加しており、その熱問題対策のための装置最適設計が重要となっている。そこで筆者等は、レーザードップラー流速計(LDA)を用いて自然空冷ならびに強制空冷時の電子機器内の流れを明らかとすることにより、冷却効率化の問題点およびその要因についての検討を行ったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
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仲村 人也
NEC
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仲村 人也
日本電気株式会社
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橋本 雅伸
日本電気株式会社C&Cシステム研究所
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橋本 雅伸
NEC機能エレクトロニクス研究所
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小村 辰美
日本電気株式会社
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仲村 人也
伝送共通技術本部
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