B-13-13 光ファイバを利用した30MHz減衰量精密測定回路
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概要
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電総研では、RF (Radio Frequency)減衰量標準のための精密測定技術の研究を行っている。基準減衰器には、1kHzで動作するIVD (Inductive Voltage Divider;分圧比を高精度で設定できる変成器)を採用している。マイクロ波測定の場合は、RF減衰量をヘテロダイン検波で、中間周波数(30MHz)に変換して、ピストン減衰器(PA・Piston Attenuator)と比較する方式を用いる。従って、標準としては、PAを基準減衰器(すなわち1kHzのIVD)で校正する測定回路が必要である。この測定回路では、30MHz信号に対して非常に高いアイソレーションが必要なチャネルがあり、そこに光ファイバを利用するための検討を行う。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-03-08
著者
-
古屋 克己
電子技術総合研究所
-
川上 友暉
電子技術総合研究所
-
川上 友暉
通商産業省工業技術院電子技術総合研究所
-
Ranjit Singh
電子技術総合研究所
-
Singh R
Agency Of Industrial Sci. And Technol. Ministry Of International Trade And Ind. Ibaraki Jpn
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