OCS2000-33 / PS2000-17 / OFT2000-29 光ファイバを利用した高周波精密減衰量測定回路
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概要
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RF減衰量精密測定において, 測定回路の信号チャネルと参照チャネル間に非常に高いアイソレーションが必要である.光ファイバを利用して, 高いアイソレーション回路を得るための方法を提案している.提案した方法を用いて, RF精密減衰量の測定回路を構成し, アイソレーション効果を確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-07-20
著者
-
川上 友暉
電子技術総合研究所
-
川上 友暉
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
-
Widarta A
Agency For The Assessment And Application Of Technol. Jakarta Idn
-
ウィダルタ アントン
電子技術総合研究所
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