Widarta A | Agency For The Assessment And Application Of Technol. Jakarta Idn
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概要
関連著者
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Widarta A
Agency For The Assessment And Application Of Technol. Jakarta Idn
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川上 友暉
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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川上 友暉
電子技術総合研究所
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ウィダルタ アントン
電子技術総合研究所
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國分 欽智
日本大学工学部電気電子工学科
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アントン ウィダルタ
技術評価応用庁
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国分 欽智
日本大学工学部
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ウィダルタ アントン
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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ウィダルタ アントン
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
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川上 友暉
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
著作論文
- 方形導波管扇形コ-ナH面ベンドの伝送特性の簡潔なモ-ド解析とその解
- 方形導波管スリット結合E面T分岐の散乱係数の解
- 方形導波管H面接続部の散乱特性の解析--解の統合化
- C-2-76 高周波標準路線の損失(減衰量)の精密測定(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- C-2-96 誘導分圧器を用いた中間周波置換法によるRF減衰量精密測定の検討
- OCS2000-33 / PS2000-17 / OFT2000-29 光ファイバを利用した高周波精密減衰量測定回路
- OCS2000-33 / PS2000-17 / OFT2000-29 光ファイバを利用した高周波精密減衰量測定回路
- マイクロ波シールドの考察 : フェライト吸収材・光ファイバの利用