C-6-16 半固定厚膜可変抵抗器のESD試験における抵抗変化の要因
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-03-08
著者
-
樋口 千明
田中貴金属工業(株)
-
金子 郁夫
武蔵工業大学大学院工学研究科
-
合葉 和之
武蔵工業大学
-
金子 郁夫
武蔵工業大学
-
金子 郁夫
武蔵工業大学工学部電子通信工学科
-
田口 貞美
田中貴金属工業株式会社
-
樋口 千明
田中貴金属工業株式会社商品開発セクション
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