斜入射反射波法による複素誘電率および複素透磁率の測定

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概要

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電気材料定数測定を自由空間にて行うことが有益な場合がある。自由空間におけるマイクロ波帯の反射係数の測定は、直接波を受信波ベクトルから分離することが必要である。この直接波は、試料面を動かすことにより分離することができる。この手法にて、金属で裏打ちされた平板試料に平行偏波および垂直偏波を斜入射させたときの反射係数を測定し、複素誘電率および複素透磁率を同時に与える方法を提案する。さらに、同様の手法を二つの入射角にて行うことにより、反射係数を測定ずみの平板試料の上に積み重ねた平板試料の電気材料定数を決定する方法も示される。
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-11-16

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