オンウエハチューニングを用いたW帯雑音パラメータの測定
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概要
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オンウエハプローブをチューナとして用いるオンウエハチューニングを利用し、W帯でのP-HEMTのNF測定をもとに雑音パラメータを導出したので、その方法と結果を報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11
著者
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吉永 浩之
東芝 マイクロエレクトロニクスセ
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吉永 浩之
株式会社東芝セミコンダクター社マイクロエレクトロニクスセンター
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安部 文一朗
株式会社東芝 小向工場
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柴田 清裕
株式会社東芝 小向工場
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吉永 治之
株式会社東芝小向工場
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吉永 浩之
株式会社東芝 小向工場
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安部 文一朗
株式会社東芝小向工場
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紫田 清裕
株式会社東芝小向工場
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柴田 清裕
株式会社東芝
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