自励発振半導体レーザを用いる全光型クロック抽出の解析
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概要
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自励発振半導体レーザ(SP-LD)を用いて全光型のクロック抽出が可能なことが実験的に示されている.レート方程式を用いてこのクロック抽出の特性を解析した.注入光の繰り返し周波数fがf_0-δ【.Itoreq.】f(]SY.Itoreq.〕)f_0+Δの時,入力信号からクロックパルスが抽出できることが計算結果からも明らかになった。ここで,f_0はフリーランニングの時のSP-LDの光出力パルスの繰り返し周波数である.抽出が可能な範囲は主にf_0よりも高い周波数領域にあり,f_0に対して非対称であることが分かった.また,この範囲は注入光のパワーレベルとディジタルパターンに依存する.SP-LDを用いてサブハーモニックのクロックを発生できることが今回の解析からも確認された.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-14
著者
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