ライフタイムのプロファイルを制御した高速ソフトリカバリーダイオード
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概要
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PINダイオードにおいて、P^+-I接合近傍のライフタイム(τ_J)とI層のライフタイム(τ_B)を各々制御することにより、高速かつソフトなリカバリー特性が得られることを、τ_Jとτ_Bをパラメータとしたシミュレーションにより示した。またその機構を、リカバリー過程の各時点におけるI層内過剰キャリアのシミュレーションから明確にした。実際の素子においても、従来のダイオードに比較し、優れたリカバリー特性が得られ、実回路(力率改善回路)においての比較テストでもその優位性が確認された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-07-27
著者
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鈴木 義雄
オリジン電気株式会社
-
小林 秀雄
オリジン電気
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篠原 信一
オリジン電気株式会社
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長谷川 泰男
オリジン電気株式会社
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長谷川 泰男
オリジン電気
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鈴木 義雄
オリジン電気
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篠原 信一
オリジン電気
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