ライフタイムのプロファイルを制御した高速ソフトリカバリーダイオード(その2)
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概要
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PIジャンクション近傍のライフタイムとI層のライフタイムを各々独立に制御したTLPダイオードについて、その高速かつソフトなリカバリ特性となる機構の解析を進め、シミュレーションと実験結果より、リカバリー特性のソフト性をさらに改善できることを確認した。実際の素子のdi/dt及び温度依存性を評価し、従来のダイオードと比べ優れたリカバリー特性を示すことを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-07-25
著者
-
関根 正興
オリジン電気株式会社
-
関根 正興
オリジン電気(株)
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小林 秀雄
オリジン電気
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篠原 信一
オリジン電気株式会社
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長谷川 泰男
オリジン電気株式会社
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長谷川 泰男
オリジン電気
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篠原 信一
オリジン電気
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関根 正興
オリジン電気
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