書換可能光ディスクにおけるチルト検出

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概要

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短波長半導体レーザや高NA対物レンズを用いた高密度光ディスクシステムにおいては、ディスクのチルトに伴うコマ収差により記録再生特性が大きく劣化しチルトマージンが狭くなるため、ディスクのチルトを検出し補正することが必要である。本稿では、ディスクからの反射光の強度分布に基づく、書換可能光ディスクにおける新規なラジアルおよびタンジェンシャルチルト検出方式について報告する。本方式は検出感度が高く、高帯域サーボ動作に適しており、かつ差動プッシュプル検出やランド/グルーブ検出との組み合わせが可能である。実験により本方式の有効性を実証した。
2000-09-15

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