5ビーム光ヘッドによる基板厚ずれ、ラジアルチルト検出(<特集>光記録技術及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
青色半導体レーザや高NA対物レンズを用いた高密度光ディスクシステムにおいては、ディスクの基板厚ずれに伴う球面収差やラジアルチルトに伴うコマ収差により記録再生特性が大きく劣化するため、ディスクの基板厚ずれやラジアルチルトを検出し補正することが必要である。本稿では、5ビーム光ヘッドによる新規な基板厚ずれ、ラジアルチルトの検出方式について報告する。本方式はRF信号における高い信号対雑音比を特徴とし、かつ差動演算によるフォーカス、トラック誤差検出方式との複合化を可能とする。本検出方式および液晶パネルによる補正方式の有効性を実験により実証した。
- 2001-09-14