多階層記憶装置における設計検証方式
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概要
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近年、コンピュータのキャッシュシステムは、高速化の為に論理は複雑化しており、その論理の検証は重要性を増してきている。一方、従来の検証方法では、テストデータ及び実行結果が信号値レベルの為、データの生成、結果の確認が困難であった。この問題を解決する方式として、テストデータの記述を機能レベルに上げた。その結果、テストデータの記述性及び実行結果の視認性を改善することができた。本稿では、開発したシステムの構成、適用事例などについて述べる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-06-13
著者
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田中 政吉
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
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長谷川 智英
(株)日立製作所 神奈川工場
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井上 博之
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
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長谷川 智英
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部