四光波混合を用いた半導体レーザにおける非線形利得の解析

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概要

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半導体レーザにおいて、非線形利得は、高速変調特性や発振モードの安定性などに大きな影響を与える重要なパラメータでありながら、これまで、その起源が明らかにされていなかった。本研究では、非縮退四光波混合を用いることにより、非線形利得だけでなく、非線形屈折率や関与する現象の時定数の測定を同時に行い、その起源を解析した。この方法を用いた測定は、すでに筆者らが行っていたが、今回これに改良を加え、ポンプ光とプローブ光の周波数差を2THzにまで拡張し、精密な検討を行った。その結果、1.5μm帯InGaAsPレーザの非線形利得に対するスペクトルホールバーニングの寄与は、キャリアヒーティングの寄与の10倍程度であることが示された。
社団法人電子情報通信学会の論文
1993-05-21

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