細線からのエコー周波数特性と送受波音場の測定
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概要
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細線からのエコーは音場速度ポテンシャルの自乗に対する線積分特性を持つ。この特性に着目し、断面内において細線を順次走査し、収集したエコーデータをCT再生手法で処理することによって送受波の特性を各周波数成分ごとの横断層像として表示することができる。本手法の特徴は、振動子の開口面の形状によらず、高い解像力で、送受併せた音場特性を3次元的にとらえることができることである。これは装置自体の性能評価(例えば、解像力)および弱散乱体による後方散乱問題における音場補正等にも用いられる。
- 社団法人日本音響学会の論文
- 1990-10-01
著者
-
上田 光宏
東京工業大学大学院・理工学研究科
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上田 光宏
東京工業大学
-
上田 光宏
東京工業大学 理工学国際交流センター
-
李 太宝
東京工業大学理工学国際交流センター
-
島本 洋
東京工業大学理工学国際交流センター
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