粉体及び塊状試料の全自動蛍光X線分析システム(<特集>品質管理・工程管理のための分析化学)
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概要
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多種類の粉体又は塊状試料の高精度分析が可能な自動分析システムを開発した.粉砕装置による乾式粉砕と粉末成形法によるXRF分析を基本とするが,強熱減量も測定できる自動分析システムであり,多元素同時XRF分析装置,粉砕装置,成形装置,試料ひょう量装置,試料投入装置,試料移送装置,強熱減量測定装置及び全体を統括するミニコンピューターで構成される.フィーダー一体型容器による試料のひょう量,試料ごとに温水とアルコールで洗浄される振動ミル粉砕容器,バッチ式の試料投入装置,空気洗浄が容易な金属容器による粉砕済み試料の移送などによって試料間の汚染を確実に防止して多種類試料の高精度自動分析を実現した.開発した自動分析システムをセラミック用原料,調合物,焼結体の日常分析に適用したときの分析精度は,相対標準偏差(%)として,主成分の分析で±0.15%,副次成分の分析で±0.5%であった.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1988-11-05
著者
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