ASIC用テストプログラム編集におけるパラメタライズド記述フォーマッタの応用

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概要

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• 半導体微細加工技術の進展により数十万ゲートのLSIが実現可能となり、LSI機能もますます複雑化する傾向にある。このため、LSIのテストプログラム作成は非常に困難な問題となっている。特に、特定用途向きIC(以下ASICと略す)では、回路機能の複雑さに加え、多品種少量生産を短期に低コストで実現する必要があり、ASICのテストプログラムを短期間に作成することが重要になる。テストプログラムを短期間に作成しASICのテストコストを削減するには以下の内容を実現する必要がある。(1)短期間でテストプログラムを開発する。(2)ASICのピン数、動作速度に見合ったできるだけ安価なLSIテスタ(以下テスタと略す)でテストを行う。(3)ASICのテスト時間そのものを短縮する。(1)、(2)を実現するために、機能・性能・価格の異なる複数種類のテスタに対して、ASICのテストプログラムを自動編集するテストプログラム編集ツールが必要となる。また、テストプログラム編集ツールの開発そのものを短期間に行う必要がある。(3)を実現するためには、テストプログラム編集ツールがテスタハードウェア及びソフトウェアの機能・性能向上によるテストプログラムの変更に対して容易に対応できなければならない。本稿では、パラメタライズド記述フォーマッタ(以下PDFと略す)を適用することにより、(1)~(3)の内容を実現したテストプログラム編集ツールについて述べる。

• 一般社団法人情報処理学会の論文
• 1992-02-24

著者

• 川口 浩司

  三菱電機セミコンダクタソフトウエア(株)

• 田中 宏

  三菱電機(株)

• 掃部 耕平

  三菱電機セミコンダクタソフトウェア(株)

• 鳥羽 宏幸

  三菱電機セミコンダクタソフトウエア(株)

• 鳥羽 宏幸

  三菱電機システムlsiデザイン(株)

• 掃部 耕平

  三菱電機セミコンダクタソフトウエア(株)

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