直流テストパターン選択手法の改良によるASICのテスト時間の短縮

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概要

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• 一般社団法人情報処理学会の論文
• 1998-10-05

著者

• 小迫 靖志

  三菱電機(株)

• 澤田 茂穂

  三菱電機システムlsiデザイン(株)

• 鳥羽 宏幸

  三菱電機システムlsiデザイン(株)

• 田中 宏

  三菱電機システムLSIデザイン(株)

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